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基于40 nm CMOS工藝的高速SAR ADC的設(shè)計(jì)

基于40 nm CMOS工藝，設(shè)計(jì)了一種高速逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計(jì)采用了非二進(jìn)制冗余DAC技術(shù)來(lái)緩解ADC對(duì)建立時(shí)間和建立精度的要求，來(lái)提高ADC量化的準(zhǔn)確性;采用帶有預(yù)放大級(jí)的高速比較器來(lái)提高比較器的精度，同時(shí)減小后級(jí)Latch的回踢噪聲，采用了兩級(jí)Latch來(lái)進(jìn)一步提高比較器的速度;采用基于鎖存器的鎖存單元來(lái)提高SAR邏輯控制電路的速度，并且采用了異步時(shí)序控制，不需要外部時(shí)鐘，有利于提高SAR ADC的速度，并降低了設(shè)計(jì)的復(fù)雜度。設(shè)計(jì)的SAR ADC在160 MHz的采樣頻率下，在不同輸入信號(hào)頻
關(guān)鍵字：高速通信模數(shù)轉(zhuǎn)換器逐次逼近非二進(jìn)制 201803

簡(jiǎn)介逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(因其逐次逼近型寄存器而稱為SAR ADC)廣泛運(yùn)用于要求最高18 位分辨率和最高5 MSPS 速率的應(yīng)用中。其優(yōu)勢(shì)包括尺寸小、功耗低、無(wú)流水線延遲和易用。主機(jī)處理器可以通過(guò)多種串行和并行接口(
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簡(jiǎn)介最高 18 位分辨率、10 MSPS 采樣速率的逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)可以滿足許多數(shù)據(jù)采集應(yīng)用的需求，包括便攜式、工業(yè)、醫(yī)療和通信應(yīng)用。本文介紹如何初始化逐次逼近型 ADC 以實(shí)現(xiàn)有效轉(zhuǎn)換。逐次逼近型架構(gòu)逐次
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在儀器儀表系統(tǒng)中，常常需要將檢測(cè)到的連續(xù)變化的模擬量如：溫度、壓力、流量、速度、光強(qiáng)等轉(zhuǎn)變成離散的數(shù)字量，才能輸入到計(jì)算機(jī)中進(jìn)行處理。這些模擬量經(jīng)過(guò)傳感器轉(zhuǎn)變成電信號(hào)(一般為電壓信號(hào))，經(jīng)過(guò)放大器放大后
關(guān)鍵字： ADC 逐次逼近 SAR Σ-Δ 雙積分

1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件，可以將需要測(cè)量的模擬信號(hào)精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號(hào)。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn)，就能簡(jiǎn)單而準(zhǔn)確地對(duì)其進(jìn)行處理，從而提取出有用的信息。現(xiàn)代電子系統(tǒng)中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A
關(guān)鍵字：逐次逼近芯片設(shè)計(jì) 轉(zhuǎn)換器